Sequential Analysis / Tests and Confidence Intervals.

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Detalles Bibliográficos

Autor principal:
Siegmund, David
Formato:
Libro
Lenguaje:
español
Publicado:
USA: New York. Springer-Verlag New York, Inc. 1985
Edición:
First Edition.
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Descripción
Descripción Física:xi, 272 p. ; 24 cm.
Público:Springer Series in Statistics.
ISBN:0387961348
3540961348