Applied Logistic Regression /

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Detalles Bibliográficos

Autor principal:: David W. Hosmer; Stanley Lemeshow
Formato:: Libro
Lenguaje:: español
Publicado:: USA: New York: John Wiley & Sons 1989
Edición:: First Edition
Materias:: Estadística
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Descripción
Descripción Física:	ix, 307 p. ; 23,5 cm.
Público:	Biblioteca del INIE, sólo para consulta.
ISBN:	0471615536