Applieds Logistic Reegression /

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Detalles Bibliográficos

Autor principal:: Hosmer, David W., Jr
Otros Autores:: Stanely Lemeshow
Formato:: Libro
Lenguaje:: español
Publicado:: USA: New York. John Wiley & Sons, Inc. 1989
Edición:: First Edition.
Materias:: Estadística

REGRESION ANALYSIS

SERIES
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Descripción
Descripción Física:	xiii, 307 p, ; 23,5 cm.
Público:	Wiley Series in Probability and Mathematical Statistics.
ISBN:	0471615536