Applied Logistic Regression /

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Detalles Bibliográficos

Autor principal:: Hosmer, David W., Jr
Otros Autores:: Stanely Lemeshow
Formato:: Libro
Lenguaje:: español
Publicado:: USA: New York. John Wiley & Sons, Inc. 1989
Edición:: Fisrt Edition
Materias:: Estadística

REGRESSION ANALYSIS

SERIES
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