Applied Logistic Regression /

Guardado en:

Detalles Bibliográficos

Autor principal:: Hosmer, David W., Jr
Otros Autores:: Stanely Lemeshow
Formato:: Libro
Lenguaje:: español
Publicado:: USA: New York. John Wiley & Sons, Inc. 1989
Edición:: Fisrt Edition
Materias:: Estadística

REGRESSION ANALYSIS

SERIES
Etiquetas:: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Descripción
Descripción Física:	xiii, 307 p. ; 23,5 cm.
Público:	Wiley Serie in Probability and Mathatical Statistics.
ISBN:	0471615536